تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۸,۴۶ ثانیه یافت شد.

1. IDDQ testing of VLSI circuits

پدیدآورنده: / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing

رده :

TK

7874

.

I3223

1993

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است